以色列 Ophir 生产的工业级激光光束轮廓检测设备，专为激光器制造、激光加工设备配套、产线质检、科研实验等场景打造，以高精度、高稳定性、易集成的特性，成为激光行业品质管控的核心检测工具。设备采用 1/1.8 英寸 2048×1536 高分辨率全局快门 CMOS，3.45μm 小像素，可捕捉最小 34.5μm 至最大 5.3mm 的激光光斑，光谱覆盖 190–1100nm，兼容紫外、可见光、近红外连续与脉冲激光器，解决传统相机近红外拖影、过曝问题，保证测量真实可靠。USB3.0 高速接口，全分辨率 24fps 实时成像，数据传输无延迟，支持外部触发同步，适配产线自动化检测；紧凑方形机身、C 型接口、传感器内凹设计，方便安装在设备内部或狭小工位，提升集成灵活性。标配 BeamGage 专业光束分析软件，一键完成光斑尺寸、椭圆度、均匀性、发散角等参数测量，数据可导出、追溯，符合行业标准；设备具备高抗损伤能力、宽温工作（0–50℃），通过多项国际合规认证，长期运行稳定、维护简单。作为进口原装检测设备，性能稳定、精度可靠，有效提升激光器生产良率、降低质检成本，是工业与科研领域激光检测的优选方案。
| 参数项 | 规格指标 |
|---|
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| 感光芯片 | 硅 CMOS，全局快门 |
| 有效像素 | 2048×1536 |
| 波长范围 | 190–1100 nm |
| 光斑测量 | 34.5μm–5.3mm |
| 数据接口 | USB 3.0 |
| 帧速率 | 24 fps |
| 动态范围 | 72 dB |
| 触发方式 | 硬件 / 软件触发 |
| 工作温度 | 0–50℃ |
| 认证 | CE、UKCA、中国 RoHS |
Ophir 激光光斑轮廓分析仪传感器工业检测Ophir 激光光斑轮廓分析仪传感器工业检测
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